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Eine kleine Anzahl von Systemkomponenten enthält normalerweise die meisten entdeckten Defekte oder ist für die meisten Betriebsausfälle verantwortlich (Enders 1975). Dieses Phänomen ist eine Veranschaulichung des Pareto-Prinzips. Vorhergesagte Defektcluster und tatsächliche Defektcluster, die während des Tests oder im Betrieb beobachtet werden, sind ein wichtiger Input für risikobasiertes Testen...